本書(shū)可以作為從事微電子器件制造的工程技術(shù)人員、管理人員、研究和教育工作者的參考書(shū),也可作為微電子專(zhuān)業(yè)教材使用。
我國(guó)正處在微電子工業(yè)蓬勃發(fā)展的時(shí)代,對(duì)微電子系統(tǒng)封裝材料及封裝技術(shù)的研究也方興未艾。社會(huì)上對(duì)有關(guān)封裝材料及封裝技術(shù)的出版物的需求日益增加。本書(shū)是一本較系統(tǒng)地闡述封裝材料及封裝技術(shù)的讀物。它是在參考當(dāng)今有關(guān)封裝材料及封裝技術(shù)的出版物的基礎(chǔ)上,結(jié)合作者在美國(guó)多年從事微電子封裝工作的經(jīng)驗(yàn)而編寫(xiě)的。本書(shū)可以作為從事微電子工作的工程技術(shù)人員、管理人員、研究和教育工作者的參考書(shū)。
本書(shū)較詳細(xì)地介紹了微電子器件封裝用的高分子材料、陶瓷材料、金屬焊接材料、密封材料及黏合劑等材料,闡述了半導(dǎo)體芯片、集成電路器件的封裝制造工藝,講述了微電子器件封裝的電子學(xué)和熱力學(xué)設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)理論。
周良知,1965年大學(xué)畢業(yè),1982年獲碩士學(xué)位,1987年,作為訪問(wèn)學(xué)者,赴美國(guó)斯坦福大學(xué)材料科學(xué)與工程系進(jìn)修,之后先后在美國(guó)National Semiconductor Corp. AIliance Fiber Optic Products Inc.Oplink Communication Inc.OpticNet Inc.等擔(dān)任半導(dǎo)體硅晶片工藝師、微電子器件研究與開(kāi)發(fā)工程師、微電子器件封裝高級(jí)工程師等職務(wù)。
開(kāi)關(guān)電源中的功率電子器件主要是開(kāi)關(guān)管和變壓器,這兩個(gè)電子元件直接決定電源的輸出功率
【1】按能被控制電路信號(hào)控制的程度可以分為: 半控型器件:就是通過(guò)控制信號(hào)可以控制其導(dǎo)通擔(dān)不可控制其關(guān)斷的電力電子器件 例如晶閘管 全控型器件:就是通過(guò)控制信號(hào)既可以控制器導(dǎo)通...
1 開(kāi)關(guān)器件,在switch的過(guò)程中的損耗,recovery什么的 2 開(kāi)關(guān)器件在導(dǎo)通時(shí)的損耗 (器件具體損耗要看手冊(cè)并且根據(jù)提供者給出的軟件仿真測(cè)試)...
格式:pdf
大小:2.3MB
頁(yè)數(shù): 1頁(yè)
評(píng)分: 4.7
在通俗概念中認(rèn)為中國(guó)在科技技術(shù)方面發(fā)展較晚,而根據(jù)現(xiàn)階段的研究發(fā)現(xiàn),自從改革開(kāi)放始,在進(jìn)入21世紀(jì)之前,中國(guó)在科技技術(shù)相關(guān)領(lǐng)域已經(jīng)有了很大進(jìn)展,基本上可以與世界同步;加入WTO以后中國(guó)在電力電子方面的發(fā)展速度更快、原創(chuàng)性的產(chǎn)品也在不斷出現(xiàn),當(dāng)前電力工業(yè)之所以能夠領(lǐng)先于世界也是這種快速發(fā)展與不斷創(chuàng)新產(chǎn)生的直接結(jié)果。以下選取電力電器件作為主題,先說(shuō)明電力電子器件的基本類(lèi)型、性能,再通過(guò)對(duì)其中的驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)、器件保護(hù)等方面對(duì)它的運(yùn)用加以討論。
本書(shū)主要內(nèi)容包括微電子器件封裝技術(shù)和微電子器件測(cè)試技術(shù)兩部分。微電子器件封裝技術(shù)以典型器件封裝過(guò)程為任務(wù)載體,將其分解為晶圓劃片、芯片粘接、引線(xiàn)鍵合、金屬封裝、塑料封裝、電鍍、切筋成型、打印代碼、高溫反偏、功率老煉10個(gè)學(xué)習(xí)任務(wù),每個(gè)學(xué)習(xí)任務(wù)都與生產(chǎn)工作過(guò)程緊密對(duì)接,從操作程序到操作的關(guān)鍵技術(shù)都做了詳細(xì)的講述。微電子器件測(cè)試技術(shù)則注重生產(chǎn)技術(shù)的傳授,詳細(xì)介紹了芯片的電參數(shù)、可靠性等器件相關(guān)測(cè)試技術(shù)。本書(shū)采用了大量生產(chǎn)過(guò)程的真實(shí)圖片和視頻,可以縮短學(xué)習(xí)者與生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的距離。
本書(shū)可作為微電子專(zhuān)業(yè)本科及大專(zhuān)教材,也可作為微電子專(zhuān)業(yè)教師能力培訓(xùn)用書(shū),同時(shí)可作為從事微電子器件封裝與測(cè)試工作人員的參考用書(shū)。
第一篇微電子器件封裝技術(shù)
項(xiàng)目一了解微電子器件封裝技術(shù)
項(xiàng)目二微電子器件封裝制造技術(shù)
任務(wù)一晶圓劃片
任務(wù)二芯片粘接
任務(wù)三引線(xiàn)鍵合
任務(wù)四金屬封裝
任務(wù)五塑料封裝
任務(wù)六電鍍
任務(wù)七切筋成型
任務(wù)八打印代碼
任務(wù)九高溫反偏
任務(wù)十功率老煉
項(xiàng)目三三端穩(wěn)壓器封裝
項(xiàng)目四F型功率三極管封裝
第二篇 微電子器件測(cè)試技術(shù)
項(xiàng)目五微電子芯片電參數(shù)測(cè)試
任務(wù)一管芯中測(cè)
任務(wù)二中間電參數(shù)測(cè)試
任務(wù)三終點(diǎn)測(cè)試
任務(wù)四動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試
項(xiàng)目六微電子芯片可靠性測(cè)試
任務(wù)一高低溫電參數(shù)測(cè)試
任務(wù)二熱阻測(cè)試
任務(wù)三溫度循環(huán)測(cè)試
任務(wù)四粒子碰撞噪聲測(cè)試
項(xiàng)目七微電子芯片壽命測(cè)試
任務(wù)一高溫反偏測(cè)試
任務(wù)二高溫壽命測(cè)試
任務(wù)三功率老煉測(cè)試
項(xiàng)目八微電子芯片的其他測(cè)試
任務(wù)一內(nèi)部目測(cè)
任務(wù)二外觀及機(jī)械檢查
任務(wù)三金屬封裝器件氣密性檢測(cè)(粗檢)
任務(wù)四金屬封裝器件氣密性檢測(cè)(細(xì)檢)
附錄中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路封裝術(shù)語(yǔ)(GB/T 14113—1993)
參考文獻(xiàn)
1 微電子器件封裝概述
1.1 微電子封裝的意義
1.1.1 微電子器件封裝和互連接的等級(jí)
1.1.2 微電子產(chǎn)品
1.2 封裝在微電子中的作用
1.2.1 微電子
1.2.2 半導(dǎo)體的性質(zhì)
1.2.3 微電子元件
1.2.4 集成電路
1.2.5 集成電路IC封裝的種類(lèi)
1.3 微電子整機(jī)系統(tǒng)封裝
1.3.1 通信工業(yè)
1.3.2 汽車(chē)系統(tǒng)當(dāng)中的系統(tǒng)封裝
1.3.3 醫(yī)用電子系統(tǒng)的封裝
1.3.4 日用電子產(chǎn)品
1.3.5 微電子機(jī)械系統(tǒng)產(chǎn)品
1.4 微電子封裝設(shè)計(jì)
2 封裝的電設(shè)計(jì)
2.1 電的基本概念
2.1.1 歐姆定律
2.1.2 趨膚效應(yīng)
2.1.3 克西霍夫定律
2.1.4 噪聲
2.1.5 時(shí)間延遲
2.1.6 傳輸線(xiàn)
2.1.7 線(xiàn)間干擾
2.1.8 電磁波干擾
2.1.9 SPICE電路模擬計(jì)算機(jī)程序
2.2 封裝的信號(hào)傳送
2.2.1 信號(hào)傳送性能指標(biāo)
2.2.2 克西霍夫定律和轉(zhuǎn)變時(shí)間延遲
2.3 互連接的傳輸線(xiàn)理論
2.3.1 一維波動(dòng)方程
2.3.2 數(shù)字晶體管的傳輸線(xiàn)波
2.3.3 傳輸線(xiàn)終端的匹配
2.3.4 傳輸線(xiàn)效應(yīng)的應(yīng)用
2.4 互連接線(xiàn)間的干擾(串線(xiàn))
2.5 電力分配的電感效應(yīng)
2.5.1 電感效應(yīng)
2.5.2 有效電感
2.5.3 芯片電路的電感和噪聲的關(guān)系
2.5.4 輸出激勵(lì)器的電感和噪聲的關(guān)系
2.5.5 供電的噪聲
2.5.6 封裝技術(shù)對(duì)感生電感的影響
2.5.7 設(shè)置去耦合電容
2.5.8 電磁干擾
2.5.9 封裝的電設(shè)計(jì)小結(jié)
3 封裝的熱控制
……
4 陶瓷封裝材料
5 聚合物材料封裝
6 引線(xiàn)框架材料
7 金屬焊接材料
8 高分子環(huán)氧樹(shù)脂
9 IC芯片貼裝與引線(xiàn)鍵合
10 可靠性設(shè)計(jì)
參考文獻(xiàn)