噪音水平:ICON Head<30 pm RMS, FastScan Head<40 pm RMS掃描范圍: ICON Head 90μm×90μm×10μm, FastScan Head 35μm×35μm×3μm附加功能1.AFM形貌成像(包含接觸,輕敲,峰值力輕敲模式)2.MFM磁力顯微鏡3.EFM靜電力顯微鏡4.KPFM表面電勢顯微鏡5.LFM摩擦力顯微鏡6.TUNA遂穿電流模式7.PFM壓電響應顯微鏡(含附加高壓模塊)8.STM掃描隧道顯微鏡9.H/C MODEL升降溫模塊10.PF-QNM定量納米力學11.RAMP力曲線12.FORCE-VOLUME力曲線陣列13.液下成像14.EC-AFM電化學模塊(包含升溫模塊)15.SECM掃描電化學顯微鏡16.Photoconductive AFM光電流檢測17.納米刻蝕功能。
全國范圍內,掃描探針顯微鏡的附加功能配備最全的設備之一,包含形貌功能,磁學,電學,力學,電化學等,其中的掃描電化學功能,是目前唯一對外開的實驗室。
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含 量 指 標 (一)、普通住宅建筑混凝土用量和用鋼量: 1、多層砌體住宅: 鋼筋 30kg/m2 、砼 0.3 —0.33m3/m2 2、多層框架 鋼筋 38—42kg/m2 、砼 0.33 — 0.35m3/m2 3、小高層 11—12 層 鋼筋 50—52kg/m2、 砼 0.35m3/m2 4、高層 17— 18 層 鋼筋 54—60kg/m2、 砼 0.36m3/m2 5、高層 30 層 H=94米 鋼筋 65—75kg/m2 、砼 0.42 —0.47m3/m2 6、高層酒店式公寓 28 層 H=90米 鋼筋 65—70kg/m2 、砼 0.38 —0.42m3/m2 7、別墅混凝土用量和用鋼量介于多層砌體住宅和高層 11—12 層之間 以上數據按抗震 7 度區規則結構設計 (二)、普通多層住宅樓施工預算經濟指標 1、室外門窗(不包括單元門、防盜門)面積占建筑面積
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工程技術指標 一、關于土建磚的計算: 以平米計算: 12墻:紅磚用 64塊,多孔磚為 32 塊 18墻一個平方需要 96塊標準磚 24墻:紅磚用 128 塊,多孔磚為 64塊 37墻:紅磚用 192 塊,多孔磚為 96塊 49墻:紅磚用 256 塊,多孔磚為 128 塊 以立方米計算:在計算時不需要分墻厚 砌筑 1 立方米標準磚墻 ,砌筑厚度 1 磚以上,要磚 512 塊、砂漿 0.26m3、水泥 32.5級 砂漿強度 M5=59.5kg ,砂漿強度 M7.5=67.9kg 空心 24墻一個平方需要 80多塊標準磚 二、施工功效 1、一個抹灰工一天抹灰在 35平米 2、一個磚工一天砌紅磚 1000—1800 塊 3、一個磚工一天砌空心磚 800— 1000 塊 4、瓷磚 15平米 5、刮大白第一遍 300平米 /天,第二遍 180平米 /天,第三遍壓光 90平米 /天 三、基礎數據 1、
用于掃描探針顯微鏡的控制輸出及數據采集分析。
多功能掃描儀是由良田科技自主研發、生產的一種低碳、環保的新型辦公用品,它使用超便捷性結構設計,通過USB供電,采用CMOS成像原理,1秒鐘就能將我們的紙質文檔實現即時的錄入,通過OCR識別能快速將圖像轉換成word、Excel文件,快速保存,修改,管理各種文件。多功能掃描儀具有1秒高速掃描、可拍攝紙張文件和三維實物、快速OCR文字識別、定時拍攝、畫面錄像、PDF導出、聯機打印、網絡傳真、USB即插即用、便攜折疊式結構等獨特功能。
探針臺分類
探針臺從操作上來區分有:手動,半自動,全自動
從功能上來區分有:溫控探針臺,真空探針臺(超低溫探針臺),RF探針臺,LCD平板探針臺,霍爾效應探針臺,表面電阻率探針臺
經濟手動型
根據客戶需求定制
chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)
X-Y移動行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)
chuck Z軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離
顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)
顯微鏡移動方式:立柱環繞型、移動平臺型、龍門結構型(可選)
探針座:有0.7um、2um、10um精度可選,磁性吸附帶磁力開關
可搭配Probe card測試
適用領域:晶圓廠、研究所、高校等
半自動型
chuck尺寸800mm/600mm
X,Y電動移動行程200mm/150mm
chuck粗調升降9mm,微調升降16mm
可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數6~8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"
可搭配Probe card測試
適用領域:8寸/6寸Wafer、IC測試之產品
電動型
chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)
X,Y電動移動行程300mm x 300mm
chuck粗調升降9mm,微調升降16mm,微調精度土1u
可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數8~12顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
材質:花崗巖臺面 不銹鋼
可搭配Probe card測試
適用領域:12寸Wafer、IC測試之產品
LCD半自動探針臺
機械手臂取放片
電動、鍵入坐標尋位置
量測尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000
LCD手動探針臺
白熾燈或者LED整面背光
TFT元件特性、Driver IC量測分析
機臺尺寸(mm):800x600、500x400、300x300
PCB量測探針臺(TDR)
高頻測試探頭GSG / GS / SG
頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
機臺尺寸同LCD 探針臺
太陽能產業探針臺(Solar Cell 量測系統)
量測軟體:
I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
Power Convert Efficiency
采用KEITHLEY Source Meter
可加配任意品牌之太陽光模擬器