電阻率法按電極排列方式和工作方法可分為電阻率測深法(簡稱電測深法)和電阻率剖面法(簡稱電剖面法)。常用電極排列方式如圖2所示。

(1)電測深法是固定測量電極距，由小到大改變供電電極距，用以研究測點下和測區下不同導電性地質體從淺到深的垂向分布情況。電測深法按電極排列方式不同，又分為對稱四極測深、偶極測深、三極測深、環形測深、五極縱軸測深等方法。電測深法一般用于巖層傾角比較平緩的地區，了解從淺到深的巖層和構造情況，并對有電阻率差異的層位進行深度和厚度解釋。其最大勘探深度可達數公里。

(2) 電剖面法是使供電電極和測量電極的電極距都固定不變，整個裝置沿測線朝一個方向移動，在不同測點上進行觀測。它是在大體同一勘探深度情況下，了解沿測線的巖層、構造情況，解決有關地質問題。按照電極排列方式不同，電剖面法又可分為： 對稱四極剖面、復合剖面、聯合剖面、偶極剖面、中間梯度剖面等方法。電剖面法主要用于巖層傾角較大的地區，巖層傾角越大，使用越有利。巖層傾角很小時，不宜使用電剖面法。 2100433B

電阻率法工作原理如圖1所示，在地面打入兩個或兩組鐵質的供電電極A、B，用干電池或蓄電池作供電電源向地下供電，在地下建立穩定電流場，用儀器觀測出供電電流強度I，再將兩個或兩組銅質測量電極M、N打入地面，并觀測M、N兩電極之間的電位差ΔV，并按公式

電流垂直通過單位截面積、單位長度巖石時所受阻力的大小，表示巖石導電能力的參數，以ρ表示，單位為Ωm。影響巖石電阻率的因素很多，其內部因素包括巖石的礦物組分、顆粒形狀、結構、膠結物以及巖石的孔隙度、裂隙度及含水情況等;外部因素包括巖石的溫度和所承受壓力以及觀測時的供電頻率等，當外部條件差異不大時，內部因素起主要作用。

巖石可分為電子導體和離子導體兩類。①電子導體類的巖石。其電阻率主要決定于巖石的礦物組分、顆粒形狀、排列形式及裂隙發育程度。巖石中良導電礦物含量越多，巖石電阻率越接近良導電礦物的電阻率。特別是良導電礦物在巖石中互相連通時，即使含量不多，巖石電阻率也接近良導電礦物的電阻率。相反，良導電礦物含量雖然較多，但被不良導電礦物包圍隔絕，則巖石的電阻率將主要決定于不良導電礦物的電阻率。某些地區的煙煤中含有大量黃鐵礦結核，雖然黃鐵礦電阻率很低，但是由于它們呈孤立的包裹體形式賦存，并未使煙煤的電阻率顯著降低。火成巖及其變質巖都是電子導體類巖石。電子導體類巖石中的裂隙常常被地下水、泥質充填物等良導電物質充填，使巖石電阻率降低。②離子導體類巖石。主要由巖石中所含水溶液內的帶電荷離子傳導電流，大部分沉積巖都屬于此類，其電阻率主要決定于巖石的孔隙度、裂隙度及孔隙、裂隙中含水的多少和水的含鹽度(即礦化度)，而與組成巖石的礦物種類關系不大。孔隙、裂隙度越大，喀斯特越發育，含水量越多，水的礦化度越高，則巖石的電阻率越低;反之則電阻率越高。這是用電阻率法區分不同沉積巖，尋找沉積礦產和地下水，研究喀斯特發育情況和尋找固結巖層中裂隙帶或斷裂帶的物質基礎。

巖石的電阻率還隨地溫的增高和所承受壓力的增大而降低。1996年，這兩種因素在實際工作中較少考慮。由于巖石成分和結構的不均一性，特別是砂巖、泥巖、板巖、片巖以及煤等成層狀的巖石和沉積礦產，在沿巖層走向、傾向和垂向測得的電阻率值一般都不相同，這種性質稱為巖石電阻率的各向異性 (或稱非各向同性)。這種特性在實際工作中對電法資料的地質解釋影響較大。

巖石電阻率一般以火成巖最高，沉積巖相對較低(石灰巖、白云巖較高)，變質巖的電阻率介于兩者之間，并與變質前原來巖石的電阻率大小有密切關系。煤及煤系常見巖石的電阻率值大體如下頁表所示。

電阻率法觀測到的實際不是單個巖層的真電阻率，而是在地下一定空間范圍內多種具不同導電性的巖層電阻率的綜合值稱為視電阻率ρs，其單位為Ωm。

內容介紹

周楊、陳服軍、陳桂珠、鐵瑛、徐平編著的《高密度電阻率法測深原理及應用實例》對高密度電阻率法勘探的原理、基本理論和技術方法作了較為全面的論述，并給出了代表性的工程實例。全書共分六章，內容包括概述、常見地質特征的電學特性、高密度電阻率法的理論基礎、高密度電阻率法的勘探技術、高密度電阻率法的數值模擬方法和高密度電阻率法的工程應用等。

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高密度電阻率法實際上是一種陣列勘探方法，野外測量時只需將全部電極(幾十至上百根)置于測點上，然后利用程控電極轉換開關和微機工程電測儀便可實現數據的快速和自動采集。當測量結果送入微機后，還可對數據進行處理并給出關于地電斷面分布的各種物理解釋的結果。顯然，高密度電阻率勘探技術的運用與發展，使電法勘探的智能化程度大大向前邁進了一步。

1、電極布設是一次完成的，這不僅減少了因電極設置而引起的故障和干擾，而且為野外數據的快速和自動測量奠定了基礎。2、能有效地進行多種電極排列方式的掃描測量，因而可以獲得較豐富的關于地電斷面結構特征的地質信息。3、野外數據采集實現了自動化或半自動化，不僅采集速度快(大約每一測點需2~5s)，而且避免了由于手工操作所出現的錯誤。